01、具有写fu助电路的SRAM读优选位单元
002、SRAM中的存储单元的检测方法
003、SRAM存储单元阵列、SRAM存储器及其控制方法
004、SRAM存储模块及其灵敏放大器电路
005、SPSRAM封装器
006、SRAM存储单元阵列、SRAM存储器及其控制方法
007、SRAM存储单元阵列、SRAM存储器及其控制方法
008、用于SRAM写入fu助的负位线升压方案
009、一种非挥发性SRAM存储单元电路
010、QDR-SRAM的时钟相位调整方法和装置
011、一种高可利用率k抗k辐射的SRAM自刷新电路及其自刷新方法
012、SRAM单元
013、一种多通道SRAM单粒子测试方法及装置
014、一种多模式SRAM单粒子测试方法及装置
015、一种自适应的源极电压调节型SRAM结构
016、一种自适应的字线电压调节型SRAM结构
017、一种十管k抗k瞬态效应SRAM存储单元
018、一种非挥发性SRAM存储单元电路
019、用于先进的SRAM设计以避免半选问题的新型3D结构
020、一种高写入速度低静态功耗k抗k单粒子翻转的SRAM单元
021、一种同时提高读噪声容限和写裕度的新型12管SRAM单元电路
022、一种同时提高读噪声容限和写裕度的新型12管SRAM单元电路
023、SRAM单元
024、一种低电压单端读写SRAM存储单元及控制方法
025、基于数据可信性判断的k抗k辐射SRAM多模冗余设计方法
026、SRAM存储卡以及电压监视电路
027、结合全地址和单地址的SRAM瞬时剂量率效应测试系统及方法
028、k抗k单粒子翻转的SRAM型FPGA刷新电路及刷新方法
029、涉及多存储体、双管道或多管道SRAM的系统和方法
030、SRAM读取时间自测试电路
031、k抗k辐射SRAM单元
032、低功耗SRAM单元电路结构
033、用于操作SRAM单元的方法
034、一种基于DICE结构的改进SRAM存储单元
035、k抗k辐射SRAM单元
036、SRAM电压fu助
037、用于实施基于地址的SRAM访问协助的系统和方法
038、双端口SRAM连接结构
039、一种SRAM的读取、缓存电路
040、SRAM读取时间自测试电路及测试方法
041、减少多端口SRAM存储器单元中的泄漏功率的方法和设备
042、用于实施SRAM写fu助的系统和方法
043、含FinFET的SRAM单元
044、gai善SRAM单元可写性
045、一种三态10管SRAM存储单元电路设计
046、用于多端口SRAM的自适应读取字线电压升高设备和方法
047、SRAM的存储单元
048、一种可编程的SRAM灵敏放大器的跟踪电路
049、一种提高SRAM良率的补偿电路
050、一种基于温度补偿的SRAM灵敏放大器
051、一种包含写操作时序追踪单元的SRAM结构
052、一种SRAM芯片单粒子闩锁测试机
053、一种SRAM单元
054、SRAM存储单元、SRAM存储单元写操作方法及SRAM存储器
055、一种面向SRAM的k抗kSEU错误累积的控制器及方法
056、SRAM的I/O电路
057、一种异步SRAM的I/O接口电路
058、用于提供用户启动的闩锁以销毁SRAM数据的系统和方法
059、一种SRAM型存储器的纠错电路
060、一种SRAM的读取、缓存电路和方法
061、SRAM单元连接结构
062、五晶体管SRAM单元
063、基于电荷再利用和位线分级的低功耗8管SRAM芯片设计方法
064、MOS晶体管及其形成方法、SRAM存储单元电路
065、采用显示时钟产生伪SRAM刷新时钟的控制电路
066、SRAM存储单元、形成存储单元的电路及形成方法
067、支持高速串口读写方式的伪SRAM
068、提高SRAM写能力的位线负电压电路
069、控制灵敏放大器开启的追踪电路和采用追踪电路的SRAM
070、一种用于SRAM亚阈值地址的驱动电路
071、一种SRAM存储器以及位单元追踪方法
072、一种SRAM存储器
073、一种SRAM存储器
074、用于SRAM单元的装置
075、用于SRAM单元结构的方法和装置
076、SRAM失配晶体管检测方法
077、SRAM时序测试电路及测试方法
078、基于IEEE 1500标准兼容SRAM/ROM的MBIST控制器结构系统
079、一种用于DTMB解调芯片的自修复SRAM控制器设计
080、用于SRAM电路的结构和方法
081、具有泄漏yi制和电平控制的静态随机存取存储器（SRAM）写入fu助电路
082、SRAM单元和阵列
083、用于FinFET SRAM阵列集成电路的方法和装置
084、一种可实现亚阈值工作的列交错SRAM结构
085、一种应用于交织SRAMk抗k软错误累积效应的擦洗方法
086、一种SRAM器件单粒子闭锁效应测试系统及方法
087、一种SRAM的旁路结构
088、一种低电压工作的SRAM的存储单元电路
089、k抗k辐射SRAM时序控制电路
090、一种SRAM噪声容限测量方法
091、面向高性能SRAM的分级结构
092、一种SRAM单元
093、具有改进的稳定性和减小的位单元大小的低功率5T SRAM
094、低功耗静态存储器SRAM
095、k抗k辐射SRAM时序控制电路及时序处理方法
096、SRAM的读出电路
097、进入ASRAM芯片内部测试模式的方法
098、进入ASRAM芯片内部测试模式的电路
099、SRAM动态参数的测试方法
100、SRAM多路复用装置
101、基于PNPN结构的SRAM电路及其读写方法
102、SRAM定时单元装置和方法
103、一种SRAM位线漏电流补偿电路
104、SRAM写fu助装置
105、SRAM存储单元及存储阵列
106、一种SRAM单元
107、一种新型的k抗k单粒子翻转SRAM存储单元
108、SRAM的读出电路
109、跟踪位单元特性的SRAMyan迟电路
110、一种基于BIST控制的可编程SRAM时序控制系统
111、一种采用虚拟地结构实现的近阈值电源电压SRAM单元
112、SRAM存储器
113、一种SRAM位线漏电流补偿电路
114、包括写fu助电路的SRAM和操作该SRAM的方法
115、一种提高亚阈值SRAM存储单元工艺鲁棒性的电路
116、一种SRAM型FPGA配置区仿真故障注入方法
117、一种6T CMOS SRAM单元
118、一种基于双端口SRAM的故障注入方法
119、用FPGA实现快速SRAM读写控制的装置及方法
120、一种采用虚拟地结构实现的近阈值电源电压SRAM单元
121、一种具有读写分离的双端口SRAM单元6T结构
122、一种SRAM编程点k抗k幅照加固方法及其实现电路
123、采用分级位线和两级灵敏放大器的SRAM电路装置
124、SRAM单元
125、基于IEEE 1500的嵌入式SRAM存储器测试结构及测试方法
126、SRAM型FPGA单粒子效应试验系统及方法
127、基于IEEE 1500 的嵌入式SRAM存储器测试结构
128、一种SRAM存储器
129、SRAM存储器及其形成方法
130、一种刷新操作方法以及基于该刷新操作方法的PSRAM
131、SRAM型存储器单元
132、SRAM单元、SRAM存储器
133、适用于FPGA电路的非对称结构配置SRAM
134、用于包括双沟道晶体管的SRAM单元的本体触点
135、将相变存储器并入CMOS工艺的非易失性SRAM单元
136、基于跟踪耦合电容的SRAM写能力增强技术
137、使用ALPG测试仪进行DP SRAM测试的装置
138、基于扫描测试的多个SRAM的内建自测试方法
139、稳定SRAM单元
140、具隐藏更新及双端口能力的SRAM兼容嵌入式DRAM装置
141、一种双端SRAM单元
142、具有跟踪改进的SRAM写能力的功率的负电压发生器
143、利用电liu感应磁化反转MTJ的非易失性SRAM/锁存电路
144、一种基于SRAM型FPGA配置、刷新一体化装置
145、用于SRAM的写操作中的灵敏放大器
146、在SRAM设计中使用双栅极晶体管提升读/写边界
147、用于SRAM的自校准时钟电路
148、低泄漏功耗SRAM存储单元结构
149、提高SRAM读取状态稳定性的方法
150、静态随机存取存储器(SRAM)的自动跟踪数据
151、八管低泄漏SRAM单元
152、一种解决SRAM模块闩锁问题与增强SRAM模块可靠性的方法
153、新型SRAM单元阵列结构
154、具有gai善的写入操作的二端口SRAM
155、具有可变电源的SRAM及其方法
156、gai善SRAM匹配度的方法
157、一种降低SRAM功耗的静态译码方法
158、具有增强的读/写操作的SRAM器件
159、一种SRAM中数据的读写方法及装置
160、一种降低SRAM功耗的电路和方法
161、用于双端口SRAM应用的可编程控制块
162、用于SRAM接口转SDRAM接口的电路及转换方法
163、SRAM电路及使用SRAM电路的缓冲电路
164、具有电压的可转换电源组的SRAM
165、具有分离的读-写电路的SRAM单元
166、一种自定时SRAM访问控制电路
167、一种可实现高速写和窗口写的低功耗SRAM电路结构设计
168、用于检测薄弱单元的SRAM测试方法和SRAM测试配置
169、用金属氧化物作为存储介质的非挥发SRAM及其应用
170、一种无需灵敏放大器的SRAM体系电路
171、自偏压晶体管结构以及SRAM单元
172、用在高密度CMOS SRAM中的叠置存储单元
173、高速流水线中长yan时多端口SRAM的快速访问方法
174、具有动态不对称单元的SRAM
175、1T1C SRAM
176、用于弱SRAM单元的检测
177、具有集成嵌入式快闪和SRAM存储器的移动通信装置
178、多端口压缩sRAMs(静态随机存取存储器)的真速内建自测试
179、相容于SRAM界面的DRAM的yan迟读取/储存模式
